一、研究背景
二、研究进展
三、图文简介
[图文内容]
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图 1 CsPbBr3薄膜在Si(100)衬底上的表征

图 2 CsPbBr3薄膜表面的AFM图像

图 3 器件性能

图 4 光电探测器的光响应特性及性能评估

图 5 p-Si-CsPbBr3异质结构光电探测器的能带结构与工作原理

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图 6:Si/CsPbBr3 异质结能带结构与 p-Si/CsPbBr3 光电探测器性能模拟。
阅读启发:
通过学习脉冲激光沉积 (PLD) 技术的原理和方法,以及 Si-PVK 叠层探测器的能带原理,读者可以深入理解这些技术和器件的特性。
文献链接:https://doi.org/10.1063/5.0234708
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