电子科技大学分析测试中心透射电镜助力新型MXene材料卓越微波吸收性能机理研究

近日，由电子科技大学分析测试中心提供数据支持的又一项高水平科研成果——电子科学与工程学院陆海鹏研究员团队最新研究论文《achieving excellent microwave absorption performance in ultralight ti3c2tx mxene with m-o bonds (m = fe, co, ni) as surface terminating groups》在中国科学院一区top期刊chemical engineering journal上顺利发表。该研究通过精妙调控mxene材料的表面基团，实现了电磁性能的协同优化，为高效微波吸收材料的研发探索出了一条全新的道路。分析测试中心透射电镜设备在该研究中特别是在原子尺度表征方面提供了关键性的实验数据，这也是透射电镜机组试运行2个月以来支持发表的第4篇sci论文（署名或致谢分析测试中心）。

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重写后的文字：

本研究中，研究人员创造性地制备了一系列 M-Ti3C2Tx（M=Fe, Co, Ni）材料，其部分表面终止基团为 M-O 键，展现出非凡的性能。值得注意的是，在仅 2 wt% 的低填充率下，M-Ti3C2Tx 材料就呈现出 4.90 GHz（对应于 1.63 mm 厚度）的卓越有效吸收带宽 (EAB)，这标志着微波吸收性能的显着提升。这一突破主要归因于 M-O 键对材料介电和磁性能的协同优化效应，特别是介电性能的显著增强，为材料在微波吸收领域的应用开辟了广阔的前景。

为了深入了解 M-O 键对 M-Ti3C2Tx 材料电磁性能的内在影响机制，研究人员利用分析测试中心的球差校正透射电子显微镜，采用高角环形暗场成像技术 (HAADF) 和积分差分相位衬度成像技术 (iDPC)，在原子尺度上从样品截面方向精确定位了 M-O 键的分布，并揭示了材料的微观结构特征。这不仅阐明了 M-O 键对 M-Ti3C2Tx 材料中极化和导电损耗的显著调控作用，也为后续同领域研究中的材料设计和性能优化提供了方法参考。

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1. 分析测试中心现已启用双球差矫正透射电镜和场发射透射电镜等先进电镜设备。
2. 这些设备可提供高水平的分析测试服务，包括微观形貌和结构表征以及成分分析。
3. 分析测试中心秉承“开放、共享、专业、高效”的服务理念，致力于支持前沿科研项目。
4. 中心将持续提供强有力的技术支持，助力科研创新成果不断涌现。
5. 中心旨在为科技进步和社会发展做出贡献。

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