比亚迪半导体专利公布:新型存储器测试技术
比亚迪半导体股份有限公司近日公布一项名为“存储器测试方法、存储器测试装置、存储介质和电子设备”的专利,申请公布日为2024年12月27日,申请公布号为CN119207534A。
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该专利公开了一种创新的存储器测试方法及相关装置。该方法通过遍历待测存储器的每个单元,并对目标单元及其相邻单元进行数据读写操作,然后比较实际逻辑关系值与标准值,从而高效准确地检测存储器故障。 此方法兼顾故障覆盖率、测试复杂度和测试效率,具有更高的可靠性和效率。
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